[发明专利]一种取向硅钢电磁性能的检测方法有效

专利信息
申请号: 201010207498.0 申请日: 2010-06-22
公开(公告)号: CN102298127A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 吴美洪;靳伟忠;孙焕德;杨国华;沈侃毅;黄杰;李国保 申请(专利权)人: 宝山钢铁股份有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 上海开祺知识产权代理有限公司 31114 代理人: 竺明
地址: 201900 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种取向硅钢电磁性能的检测方法,通过金相蚀坑法测得试样中每个晶粒的欧拉角,并计算出该晶粒的取向偏差角θi(度),结合该晶粒的面积Si(mm2)及Si元素的修正系数X,X=0.1~10T/度),利用这些参数(θi、Si、X)在单晶材料磁性能B0(饱和磁感应强度,T)的基础上进行修正,修正的公式为:通过上述推算,得到该取向硅钢的电磁性能B8。本发明解决了没有磁测设备的情况下,或者由于试样重量和尺寸过小或表面质量不良等原因而无法采用磁测设备的情况下,完成试样的磁性检测的难题。
搜索关键词: 一种 取向 硅钢 电磁 性能 检测 方法
【主权项】:
一种取向硅钢电磁性能的检测方法,该取向硅钢Si百分含量为2.8%~4.0%,通过金相蚀坑法测得试样中每个晶粒的欧拉角,并计算出该晶粒的取向偏差角θi(度),结合该晶粒的面积Si(mm2)及Si元素的修正系数X,X=0.1~10T/度,利用这些参数(θi、Si、X)在单晶材料磁性能B0(饱和磁感应强度,T)的基础上进行修正,修正的公式为: B 8 = - 0.015 × X × Σ n = 1 i S i | θ i | Σ n = 1 i S i + ( B 0 - 0.04 ) - - - ( 1 ) 通过上述推算,得到该取向硅钢的电磁性能B8。
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