[发明专利]一种取向硅钢电磁性能的检测方法有效
申请号: | 201010207498.0 | 申请日: | 2010-06-22 |
公开(公告)号: | CN102298127A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 吴美洪;靳伟忠;孙焕德;杨国华;沈侃毅;黄杰;李国保 | 申请(专利权)人: | 宝山钢铁股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
代理公司: | 上海开祺知识产权代理有限公司 31114 | 代理人: | 竺明 |
地址: | 201900 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
一种取向硅钢电磁性能的检测方法,通过金相蚀坑法测得试样中每个晶粒的欧拉角,并计算出该晶粒的取向偏差角θi(度),结合该晶粒的面积Si(mm2)及Si元素的修正系数X,X=0.1~10T/度),利用这些参数(θi、Si、X)在单晶材料磁性能B0(饱和磁感应强度,T)的基础上进行修正,修正的公式为: |
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搜索关键词: | 一种 取向 硅钢 电磁 性能 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种取向硅钢电磁性能的检测方法,该取向硅钢Si百分含量为2.8%~4.0%,通过金相蚀坑法测得试样中每个晶粒的欧拉角,并计算出该晶粒的取向偏差角θi(度),结合该晶粒的面积Si(mm2)及Si元素的修正系数X,X=0.1~10T/度,利用这些参数(θi、Si、X)在单晶材料磁性能B0(饱和磁感应强度,T)的基础上进行修正,修正的公式为: B 8 = - 0.015 × X × Σ n = 1 i S i | θ i | Σ n = 1 i S i + ( B 0 - 0.04 ) - - - ( 1 ) 通过上述推算,得到该取向硅钢的电磁性能B8。
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