[发明专利]一种防止电磁干扰的测试装置及测试机台无效

专利信息
申请号: 201010202866.2 申请日: 2010-06-18
公开(公告)号: CN102288893A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 欧阳勤一 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/18
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 何文彬
地址: 215009 江苏省苏州市苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种防止电磁干扰的测试装置及测试机台,属于电子技术领域。该测试装置主要包含有一测试区和一输送装置。该测试机台主要包含有一进料区、一出料区、一组拾取臂、多个测试区及多个输送装置,通过进料区的载盘提供未经测试的待测电子组件,而拾取臂及输送轨道将待测电子组件送至输送装置上,该输送装置负责承载待测电子组件,并再通过一输送轨道,将该输送装置移载至测试区,而该待测电子组件可在测试区中进行无噪声干扰的测试作业,并在测试完成后,使用拾取臂及输送轨道将待测电子组件根据测试结果在出料区分类。
搜索关键词: 一种 防止 电磁 干扰 测试 装置 机台
【主权项】:
一种防止电磁干扰的测试装置,其特征在于,其包含:一测试区,在该测试区上形成有一个测试空间的上罩体,该上罩体的一侧具有一可供待测电子组件进出的开口,相对于该开口设有一个在该待测电子组件移动时的开启位置至测试该待测电子组件时的闭合位置两者间动作的移动装置;一输送装置,设有一个供该待测电子组件插置的测试座,并在测试空间内部以及测试空间外部来回运行;在该移动装置动作至开启位置时,该待测电子组件由该输送装置在测试空间内部以及测试空间外部来回运行,在该移动装置动作至闭合位置时,该待测电子组件位于测试空间内,测试区呈现密合状态。
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