[发明专利]一种基于层次切片的回归测试用例选择方法无效

专利信息
申请号: 201010173787.3 申请日: 2010-05-14
公开(公告)号: CN101859276A 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 陶传奇;李必信;周颖;孙小兵;文万志 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公布了一种基于层次切片的回归测试用例选择方法,利用切片技术在程序分解中的作用以及层次切片技术在面向对象程序中的优势,并且结合回归测试用例选择的特点,将层次切片技术应用其中。从版本修改信息中抽取层次切片准则。在包层次上,获取原测试用例的包层次覆盖,选择出能够覆盖包层次切片集的测试用例;在类层次上,获取包级测试用例的类层次覆盖,在包级测试用例中选择出能够覆盖类层次切片集的测试用例;在方法层次上,获取类级测试用例的方法层次覆盖,在类级测试用例中选择出能够覆盖方法层次切片集的测试用例;在语句层次上,获取方法级测试用例的语句层次覆盖,在方法级测试用例中选择出能够覆盖语句层次切片集的测试用例。
搜索关键词: 一种 基于 层次 切片 回归 测试 选择 方法
【主权项】:
一种基于层次切片的回归测试用例选择方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1).版本控制获取需要进行回归测试程序的修改点m;步骤2).利用层次切片工具JHSA计算修改点m的层次切片集,识别出受程序修改影响的部分,其切片结果为包级切片集、类级切片集、方法级切片集及语句级切片集;步骤3).从包级到语句级进行层次回归测试用例选择;a)在包层次上,从待重用测试用例集T中选择出其包覆盖集能够覆盖包级切片集的测试用例集Tp;b)在类层次上,从测试用例集Tp中选择出其类覆盖集能够覆盖类级切片集的测试用例集Tc;c)在方法层次上,从测试用例集Tc中选择出其方法覆盖集能够覆盖方法级切片集的测试用例集Tm;d)在语句层次上,从测试用例集Tm中选择出其语句覆盖集能够覆盖语句级切片集的测试用例集Ts。
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