[发明专利]物件测量方法与系统

摘要

一种物件测量方法与系统，用以测量物件的立体坐标，首先，令非平行设置的二图像撷取装置分别针对已知立体坐标的校正点进行图像撷取，以供与这些图像撷取装置相连的处理模块推导出这些图像撷取装置的光束交会共线函数，再对这些图像撷取装置进行校对以求出这些图像撷取装置内部参数与外部参数，并据以解出对应这些图像撷取装置的光束交会共线函数。接着，再令这些图像撷取装置分别针对目标物件进行图像撷取，以供该处理模块依据该光束交会共线函数计算出该物件的立体坐标。据此，本发明不但可快速地取得目标物件的立体坐标与姿态，更可提高目标物件测量时的精确性与便利性，有利于各种不同工作环境的应用。

主权项

一种物件测量方法，利用一组非平行设置的第一图像撷取装置与第二图像撷取装置以及与该第一及第二图像撷取装置相连接的处理模块对物件进行测量，该方法包括以下步骤：(1)令该第一图像撷取装置与该第二图像撷取装置分别撷取至少一已知立体坐标的校正点的第一图像及第二图像；(2)令该处理模块将该第一图像及该第二图像中对应该已知立体坐标的校正点的参数代入以光束交会共线成像原理为基础的几何函数，以利用预设的演算法计算该几何函数进而解出该第一图像撷取装置的第一镜头扭曲参数、第一镜头中心与第一姿态参数以及该第二图像撷取装置的第二镜头扭曲参数、第二镜头中心与第二姿态参数；以及(3)令该处理模块将所解出的该第一镜头扭曲参数、该第一镜头中心、该第一姿态参数、该第二镜头扭曲参数、该第二镜头中心与该第二姿态参数代入该以光束交会共线成像原理为基础的几何函数中，以产生对应该第一及第二图像撷取装置的第一光束交会共线函数与第二光束交会共线函数。