[发明专利]一种SDH多域综合测试装置及测试方法

摘要

本发明公开一种SDH多域综合测试装置及测试方法，主要解决单台测试设备测试以SDH方式传输的ATM网络或采用HDLC协议封装的IP分组网络的网络性能。该装置主要包括测试数据处理器、SDH处理器和微机控制系统。该测试方法包括以下步骤：1)初始化该装置的工作模式；2)测试数据处理器产生相应工作模式的测试信元或分组，SDH处理器将其映射到SDH帧中，并发送到被测试网元；3)SDH处理器从环回的SDH帧中提取测试信元或分组；4)测试数据处理器对接收的测试信元或分组进行处理；5)微机控制系统分析与显示测试结果。本发明不仅能对单模或多模的多种速率的SDH网络进行测试，而且能实现单个设备测试ATM网络和分组网络的网络性能，操作简便，性价比高。

主权项

一种SDH多域综合测试装置，包括测试数据处理器、SDH处理器、微机控制系统和光模块；所述测试数据处理器用于生成和接收测试信元或分组并发送到SDH处理器，对从SDH处理器接收的测试信元或分组进行处理，将测试结果送微机控制系统；所述SDH处理器用于对测试信元或分组进行SDH处理，将SDH线路测试信息送微机控制系统；其特征在于：所述的测试数据处理器基于FPGA实现测试数据处理功能，FPGA内设AAL5处理子模块、分组处理子模块、时延处理子模块、信元/分组调度子模块、测试报文产生模块、微机接口、UL1/2接口和UL3/PL3接口；其中：AAL5处理子模块，是实现ATM适配层第5类协议的模块，用于生成普通数据测试信元，在FPGA片内AAL5处理模式下工作，在发送方向上将从测试报文生成模块收到的测试数据报文封装为普通数据测试信元，写入到相应的FIFO中；在接收方向上将接收到的普通数据测试信元重装为测试数据报文，并进行CRC校验；在此过程中该子模块完成普通数据测试信元和测试数据报文的连接级计数以及连接级CRC错误测试数据报文的计数，将计数结果存放在相应的计数值存储器中，等待微机接口读取；分组处理子模块，是实现高级数据链路控制协议的模块，用于生成普通数据测试分组，在分组处理模式下工作，在发送方向上，该子模块将从测试报文产生模块收到测试数据报文封装为HDLC协议数据帧即普通数据测试分组，写入到相应的FIFO中；在接收方向上，将接收到的HDLC协议数据帧还原为测试数据报文，进行CRC校验，完成CRC错误HDLC协议数据帧数的累计，将计数结果存放在相应的计数值存储器中，等待微机接口读取；时延处理子模块，用于生成时延测试信元或时延测试分组，将其写入到相对应的FIFO中；从相对应的FIFO中读取时延测试信元或时延测试分组，对其进行相关处理，从而获取测试网络的实时时延数据；信元/分组调度子模块，在发送方向上，完成时延测试信元/分组与普通数据测试信元/分组之间的优先级调度功能，保证优先发送时延测试信元/分组；在接收方向上，分离时延测试信元/分组与数据测试信元/分组，并将时延测试信元/分组与数据测试信元/分组写入到不同的FIFO中；测试报文产生模块，用于产生测试数据报文，在测试时将该报文发送到AAL5处理模块或分组处理模块，在测试装置初始化时，微机控制系统通过微机接口将测试数据报文写入到该模块内部存储器中，并针对定量发送工作模式设置数据报文发送计数器； 微机接口，测试数据处理器与外部控制逻辑之间通信的数据、地址和控制三总线接口，微机控制系统通过该接口访问测试数据处理器内部的寄存器和相关RAM存储区；UL1/2接口，用以与AAL5处理芯片进行信元传输，完成数据位宽变换；UL3/PL3接口，用以与SDH处理器进行信元或分组传输。