[发明专利]验证电磁超声结构参数与换能效率仿真结果的实验装置有效
申请号: | 201010142013.4 | 申请日: | 2010-04-08 |
公开(公告)号: | CN101788262A | 公开(公告)日: | 2010-07-28 |
发明(设计)人: | 王淑娟;信鹏皓;康磊;米武军;段伟亮;翟国富 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01B7/14 | 分类号: | G01B7/14;G01B7/02;G01M19/00 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 验证电磁超声结构参数与换能效率仿真结果的实验装置,涉及一种验证电磁超声结构参数与换能效率仿真结果的装置。它解决验证电磁超声机构参数和换能效率仿真关系曲线正确性的问题。它通过调整转台确定线圈与被测试件的相对位置,然后通过轴套上紧固螺丝将转台位置固定,使被测试件不发生相对运动,再通过一号丝杠带动整个装置沿导杆上下移动确定线圈安装架与被测试件的初始位移。调整初始位置后,即可进行提离距离与换能效率验证实验。本发明适用于验证电磁超声结构参数与换能效率仿真结果的场合。 | ||
搜索关键词: | 验证 电磁 超声 结构 参数 效率 仿真 结果 实验 装置 | ||
【主权项】:
验证电磁超声结构参数与换能效率仿真结果的实验装置,其特征是:它包括转台(7)、底座(8)、一号顶丝(10)、一号顶丝支架(11)、轴杆(12)、紧固螺栓(14)、轴套(15)、丝母(16)、一号丝杠(17)、二号顶丝(18)、二号顶丝支架(19)、一号微位移传感器(20)、一号丝杠支架(21)、导杆(22)、二号丝杠(23)、二号丝杠支架(24)、两个磁铁安装支架(25)、线圈安装支架(26)、固定架(28)、传动杆(29)和二号微位移传感器(30);转台(7)的基座固定在底座(8)上;一号丝杠支架(21)上按从左到右的方向依次开有四个孔,所述四个孔沿一号丝杠支架(21)厚度方向开孔,所述轴套(15)、一号丝杠(17)、二号微位移传感器(30)和导杆(22)按从左到右的方向依此穿过这四个孔,所述轴套(15)与一号丝杠支架(21)上的孔过盈配合;丝母(16)固定在一号丝杠(17)所穿过的一号丝杠支架(21)的孔上,一号丝杠(17)与丝母(16)螺纹连接,并穿过一号丝杠支架(21)上的孔与转台(7)的台基外沿接触;二号微位移传感器(30)的主体与一号丝杠支架(21)固定连接;导杆(22)穿过固定架(28)和一号丝杠支架(21)上的孔后与线圈安装支架(26)上端面的中心连接,所述线圈安装支架(26)与一号丝杠支架(21)平行;一号微位移传感器(20)位于轴套(15)的左侧,且所述一号微位移传感器(20)的主体固定在一号丝杠支架(21)上;轴杆(12)的末端穿过轴套(15),并固定在转台(7)的台面的中心处,且所述轴杆(12)与转台(7)的台面垂直;所述轴杆(12)通过紧固螺栓(14)固定在轴套(15)上;所述轴杆(12)的顶端穿过一号顶丝支架(11),且与所述一号顶丝支架(11)螺纹连接;一号顶丝(10)穿过一号顶丝支架(11)后与一号微位移传感器(20)的探测端接触,所述一号顶丝(10)与一号顶丝支架(11)螺纹连接;所述一号顶丝支架(11)与一号丝杠支架(21)平行;二号顶丝(18)穿过二号顶丝支架(19),并与二号微位移传感器(30)的探测端接触,所述二号顶丝(18)与二号顶丝支架(19)螺纹连接;所述二号顶丝支架(19)通过传动杆(29)与二号丝杠支架(24)连接为一体,所述二号丝杠支架(24)与二号顶丝支架(19)相互平行;二号丝杠支架(24)固定在固定架(28)的上端,所述固定架(28)的下端固定在一号丝杠支架(21)上;二号丝杠(23)与二号丝杠支架(24)螺纹连接,所述二号丝杠(23)的底端与导杆(22)的顶端固定连接;两个磁铁安装支架(25)分布在导杆(22)的两侧,且均固定在一号丝杠支架(21)的下表面,所述两个磁铁安装支架(25)均与线圈安装支架(26)相对应;所述两个磁铁安装支架(25)中分别固定有磁体,线圈安装支架(26)中固定有线圈。
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