[发明专利]扇束2D-CT扫描系统转台旋转中心偏移量的测量方法无效

专利信息
申请号: 201010139235.0 申请日: 2010-03-31
公开(公告)号: CN101825433A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: 杨民;刘永瞻;梁丽红 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种扇束2D-CT扫描系统转台旋转中心偏移量的测量方法,是将扇束投影重排为平行束投影,根据投影角相差π的平行束投影相似的原理,将重排后的平行束正弦图中[0°180°]和[180°360°]对应的投影信息取出,获得第一正弦图和第二正弦图;将第二正弦图水平翻转后形成的第三正弦图与第一正弦图进行互相关运算,从而求出转台旋转中心偏移量τ0。本发明的方法不需要制作专门的校正试件,直接利用被扫描断层的正弦图进行测量。有效保证了扇束2D-CT系统转台旋转中心偏移量的测量精度,提高了重建图像的质量。
搜索关键词: ct 扫描 系统 转台 旋转 中心 偏移 测量方法
【主权项】:
1.一种扇束2D-CT扫描系统转台旋转中心偏移量的测量方法,其特征在于包括有下列测量步骤:步骤一:在2D-CT扫描系统中,线阵列探测器(6)和射线源焦点(1)不动,让转台(4)绕旋转中心点O作圆周转动;所述转台(4)绕旋转中心点O的转动,使得线阵列探测器(6)能够采集到不同投影角下的被扫描断层(5)的投影数据信息,将所有投影角下的投影数据合成为一幅扇束射线扫描正弦图pfan(θ,s);步骤二:将扇束射线扫描正弦图pfan(θ,s)重排为平行束扫描正弦图p(θ,s),p(θ,s)为二维矩阵,该矩阵的每一行代表每一投影角下的投影数据,θ=β时的投影数据记为pβ(s),pβ(s)为p(θ,s)的某一行;步骤三:将正弦图p(θ,s)中θ∈[0°180°]范围内的对应投影数据取出合成第一正弦图pβ1(s);将正弦图p(θ,s)中θ∈[180°360°]范围内的对应投影数据取出合成第二正弦图pβ2(s);pβ1(s)和pβ2(s)均为二维矩阵,pβ1(s)为p(θ,s)的前半部分,pβ2(s)为p(θ,s)的后半部分;步骤四:将pβ2(s)进行水平翻转,得到第三正弦图pβ3(s),pβ3(s)与pβ2(s)的关系为pβ3(s)=pβ2(N-s),N为线阵列探测器(6)中探测单元的总数目;步骤五:将第一正弦图pβ1(s)与第三正弦图pβ3(s)的对应行进行互相关运算,那么对应行的互相关函数最大值对应的坐标就是pβ1(s)与pβ3(s)对应行之间的位移差数列记为d(i),i=1~M,M表示pβ1(s)或pβ3(s)的高度;步骤六:求位移差数列d(i)的均值τ′,该均值τ′的1/2等于转台旋转中心点的偏移量τ0,即
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