[发明专利]一种基于磁性弛豫开关的检测方法无效
| 申请号： | 201010134220.5 | 申请日： | 2010-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN102200571A | 公开（公告）日： | 2011-09-28 |
| 发明（设计）人： | 孔继烈;蔡少瑜 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01R33/50 | 分类号： | G01R33/50;G01R33/465;G01N33/50 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 包兆宜 |
| 地址： | 20043*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明属磁共振成像领域，涉及一种基于磁性弛豫开关的检测方法。该发明利用磁性纳米粒子在分散与团聚状态下其横向弛豫时间T2的改变，同时在T2权重图像中引起灰度的不同，通过对磁性纳米粒子表面进行功能化修饰，对特定目标分子检测。本发明将待检样品与相应的功能化磁性纳米粒子混合后至微型检测芯片，在低场磁共振分析仪中检测；结合体积细小的多样品微型检测芯片，所需样品量少，可在低场核磁共振分析仪上对多个样品进行快速的平行检测。本发明解决了常规成像设备价格昂贵，体积庞大，操作复杂不适于常规实验室应用的问题以及低场磁共振成像仪样品腔狭小不适于多样品平行检测的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 磁性 开关 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于磁性弛豫开关的检测方法，其特征在于，其包括，将待检样品与相应的功能化磁性纳米粒子混合后至微型检测芯片，在低场磁共振分析仪中进行检测；所述的相应的功能化磁性纳米粒子为经表面修饰的磁性纳米粒子；所述的微型检测芯片为多样品的微型检测芯片。
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