[发明专利]磁控增强离子镀铝工艺及装置无效

专利信息
申请号: 201010131250.0 申请日: 2010-03-24
公开(公告)号: CN102199753A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 渠洪波 申请(专利权)人: 沈阳科友真空技术有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 俞鲁江
地址: 110111 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及离子镀铝(IVD)技术领域,公开一种磁控增强离子镀铝工艺及装置,用于解决沉积速率小,镀膜效率低,膜材原子或分子仅部分离化,离化率低的问题。具体方案为:将基片安装固定真空室内上部分,将蒸发源安装固定在基片正对下方,将真空室接地,基片接偏压电源,蒸发源接蒸发电源,真空室充氩气,在基片同蒸发源之间产生的电场E的正交方向设置磁场B;本发明的优点是:增强了离化效果,膜材的原子或分子大量被离化,可以得到很大的离子流,使沉积速率加快,镀膜效率高。同时,被离化的膜材原子或分子有很强的绕射性,可镀制形状复杂的基片。
搜索关键词: 增强 离子 镀铝 工艺 装置
【主权项】:
一种磁控增强离子镀铝工艺,将基片(2)安装固定在真空室(1)内的上部分,将蒸发源(5)安装固定在基片(2)正对下方,将真空室(1)接地,基片(2)接偏压电源(3),蒸发源(5)接蒸发电源(4),真空室(1)充氩气,其特征在于:在基片(2)同蒸发源(5)之间产生的电场E的正交方向设置磁场B。
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