[发明专利]热分析仪无效
| 申请号： | 201010113559.7 | 申请日： | 2010-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN101799439A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | E·范德克尔克霍夫;P·P·W·范格兰斯文 | 申请（专利权）人： | 梅特勒-托利多公开股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G01N25/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 瑞士格*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 一种热分析仪，特别是差示扫描量热仪，以及控制所述热分析仪的方法。所述热分析仪包括用于容纳样本(206)的样本位置(201，401)，参考位置(202，402)，与所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)相关联的加热模块，用于设置温度标称值对时间的预定温度程序的模块，第一传感器(407)，用于测量所述样本位置(201，401)处的样本温度(Ts)，并且还包括控制器，其控制所述加热模块的加热功率，其特征在于，对所述加热模块(203，403，204，404)的加热功率进行控制，以使所所测量的样本温度(Ts)实质上跟随所述预定的温度程序。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 | ||
【主权项】：
一种热分析仪，特别是差示扫描量热仪，包括用于容纳样本(206)的样本位置(201，401)，参考位置(202，402)，与所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)相关联的加热模块，用于设置温度标称值对时间的预定温度程序的模块，用于测量所述样本位置(201，401)处的样本温度(TS)的第一传感器(407)，用于测量所述参考位置(202，402)处的参考温度(TR)的第二传感器(408)，并且还包括控制器(423)，所述控制器(423)控制所述加热模块的加热功率，其特征在于，对所述加热模块的加热功率进行控制，以使所测量的样本温度(TS)实质上跟随所述预定温度程序，并且所述样本位置(201，401)和所述参考位置(202，402)之间产生的温度差代表测量信号。
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