[发明专利]用以预判及去除集成电路系统中电磁干扰特征的方法有效
| 申请号： | 201010109792.8 | 申请日： | 2010-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN101833594A | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | 陈东旸;蔡青霖;杨升帆;李瑞倪 | 申请（专利权）人： | 奇景光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;G01R23/16;G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用以预判及去除一集成电路系统中电磁干扰特征的方法，该方法包含有下列步骤：根据该集成电路系统的已转换原始数据来选择一频域范围以产生一区块频率分析结果，其中该已转换原始数据是通过一时频波形转换所产生；设定标准数据；比较该区块频率分析结果以及该标准数据来产生至少一比较结果；以及当一处理器判断所有比较结果皆通过时，产生一通过分析报告，否则，执行一电磁干扰设计时频分析。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 去除 集成电路 系统 电磁 干扰 特征 方法 | ||
【主权项】：
一种用以预判及去除集成电路系统中电磁干扰特征的方法，包含有：根据该集成电路系统的已转换原始数据来选择一频域范围以产生一区块频率分析结果，其中该已转换原始数据是通过一时频波形转换而产生；设定标准数据；比较该区块频率分析结果以及该标准数据来产生至少一比较结果；以及当一处理器判断所有比较结果皆通过时，产生一通过分析报告，否则，执行一电磁干扰设计时频分析。
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