[发明专利]单片测试装置和使用单片测试装置进行测试的方法无效

专利信息
申请号: 201010004402.0 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN101876678A 公开(公告)日: 2010-11-03
发明(设计)人: 金成国 申请(专利权)人: 三星移动显示器株式会社
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/02;G01M11/02
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 罗正云;王琦
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种单片测试装置和使用该单片测试装置进行测试的方法。当测试单片基板时,可以通过测量除故障面板之外的正常面板的电流,来防止因故障面板引发的电流特性的变化,其中该单片基板包括:面板;按第一方向排列在这些面板之间并被连接到这些面板上的第一导线;以及按不同于该第一方向的第二方向排列在这些面板之间并连接到这些面板上的第二导线。该测试装置包括:电压施加单元,该电压施加单元被分别连接到第一导线和第二导线上,以将第一电压和第二电压中被选定的那一个电压施加到相应导线上;以及测试单元,该测试单元控制所述电压施加单元,以便测量这些面板中的每个面板的导通电流和截止电流。
搜索关键词: 单片 测试 装置 使用 进行 方法
【主权项】:
一种单片测试装置,用于测试单片基板,该单片基板包括:多个面板;多个第一导线,所述多个第一导线被按第一方向排列在所述多个面板之间以连接到所述多个面板中的相应面板上;以及多个第二导线,所述多个第二导线被按不同于所述第一方向的第二方向排列在所述多个面板之间,并且被连接到所述多个面板中的相应面板上,该单片测试装置包括:多个电压施加单元,所述多个电压施加单元被有选择地分别连接到所述多个第一导线和所述多个第二导线上,以通过相应的第一导线和第二导线将第一电压和第二电压中被选定的那一个电压施加到所述多个面板上;和测试单元,该测试单元控制所述多个电压施加单元,以有选择地测量所述多个面板中的每个面板的导通电流和截止电流。
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