[发明专利]用于检测诸如高反射率的反射体的独特区域的信号处理装置、超声波装置及方法有效
| 申请号： | 200980129082.7 | 申请日： | 2009-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN102105107A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 瀧宏文;长永兼一;佐藤亨 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社;国立大学法人京都大学 |
| 主分类号： | A61B8/08 | 分类号： | A61B8/08;G01S7/52;G01S15/89 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 康建忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种信号处理装置将声波束扫描到被检体中，获取多个扫描线的接收波形数据，并且执行信号处理，以便从多个扫描线的接收波形数据形成所述被检体的断层图像。该信号处理装置包括扫描线相关计算部分(009)和相关改变位置提取部分(010)，所述扫描线相关计算部分(009)对于扫描线上的多个位置计算第一扫描线和与第一扫描线具有规定的关系的第二扫描线之间的接收波形数据的相关值；所述相关改变位置提取部分(010)从所述扫描线上的多个位置中提取相关值变为与规定值不同的值的位置作为可能存在独特区域的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 诸如 反射率 反射 独特 区域 信号 处理 装置 超声波 方法 | ||
【主权项】：
一种信号处理装置，所述信号处理装置将弹性波束扫描到被检体内、获取多个扫描线的接收波形数据、并且执行信号处理以从所述多个扫描线的接收波形数据形成所述被检体的断层图像，所述装置包括：扫描线相关计算部分，对于第一扫描线和与所述第一扫描线具有规定相关性的第二扫描线上的多个位置，所述扫描线相关计算部分计算所述第一扫描线和第二扫描线之间的接收波形数据的相关值；以及相关改变位置提取部分，所述相关改变位置提取部分从所述扫描线上的多个位置中提取所述相关值变为与规定值不同的值的位置作为能够存在独特区域的位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社;国立大学法人京都大学，未经佳能株式会社;国立大学法人京都大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980129082.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：基于硅/碳材料的PMOS与NMOS晶体管的性能提升
- 下一篇：叶片型压缩机
