[发明专利]用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法以及用于对混浊介质内部成像的设备有效
| 申请号： | 200980111054.2 | 申请日： | 2009-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101980656A | 公开（公告）日： | 2011-02-23 |
| 发明（设计）人： | R·齐格勒;A·齐格勒;T·尼尔森 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01N21/49;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李亚非;刘鹏 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法。该方法包括步骤：在测量体(4)中容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1)。荧光对比剂能够在用光照射时发射第一波长范围内的光。该方法还包括：通过随后利用来自多个不同源位置的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在多个检测位置检测从混浊介质(1)发出的光，在多个不同的波长(λ1，...，λk)下执行衰减测量；根据衰减测量对于所述多个不同的波长重构作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性(μa(r，λ))；对于第一波长范围的波长计算作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性；通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光，执行荧光测量；以及根据荧光测量使用计算的吸收特性重构混浊介质(1)内部荧光对比剂的空间分布的荧光图像。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 混浊 介质 内部 荧光 图像 方法 以及 成像 设备 | ||
【主权项】：
用于重构混浊介质内部的荧光图像的方法，该方法包括步骤：‑在测量体(4)中容纳向其施用了荧光对比剂的混浊介质(1)，荧光对比剂能够在用光照射时发射第一波长范围内的光；‑通过随后利用来自多个不同源位置的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在多个检测位置检测从混浊介质(1)发出的光，在多个不同的波长(λ1，...，λk)下执行衰减测量；‑根据衰减测量，对于所述多个不同的波长重构作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性(μa(r，λ))；‑对于第一波长范围的波长计算作为混浊介质(1)内部的位置的函数的吸收特性；‑通过随后利用来自所述多个源位置的使得荧光对比剂发射第一波长范围内的光的光照射混浊介质(1)并且对于每个源位置在所述多个检测位置检测从荧光对比剂发出的光，执行荧光测量；‑根据荧光测量使用计算的吸收特性重构混浊介质(1)内部荧光对比剂的空间分布的荧光图像。
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