[发明专利]电测试器设置和校准装置无效

专利信息
申请号: 200980109893.0 申请日: 2009-03-06
公开(公告)号: CN101978276A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 斯潘塞·B·巴雷特;布兰登·J·麦柯里;肯尼思·V·阿尔蒙特 申请(专利权)人: 电子科学工业有限公司
主分类号: G01R19/145 分类号: G01R19/145;G01R31/00
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 刘国伟
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种电子测试机包括多个测试模块,其每一者具有用于测试电子组件的多个触点对。一种用于所述电子测试机的电测试设置和校准的设备和过程包括板,所述板每轨道具有至少一个触点,所述至少一个触点可在测试位置之间移动以将测试装置以电方式选择性地插入于任一触点对之间。控制程序可经由所述板执行至少一个测试功能。
搜索关键词: 测试 设置 校准 装置
【主权项】:
一种电子测试机,其具有定位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上的多个测试模块,每一测试模块具有用于测试电子组件的多个触点对,所述电子测试机的特征在于:用于电测试设置和校准的设备,其包含:板,其具有至少一个测试电极,所述至少一个测试电极可在测试位置之间移动以将测试装置以电方式选择性地插入于触点对之间,所述测试装置选自由伏特计、电流计、精密电流源、精密电压源、校准电阻器和校准电容器组成的群组;以及控制程序,其经配置以经由所述板执行至少一个测试功能,所述测试功能选自由对准校验、电压/电流源校验、绝缘电阻(IR)泄漏测量校验、零件存在触点检查校验、电容与耗散(CD)测量校验、IR/CD补偿和IR/CD校准组成的群组。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科学工业有限公司,未经电子科学工业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980109893.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top