[发明专利]电测试器设置和校准装置无效
申请号: | 200980109893.0 | 申请日: | 2009-03-06 |
公开(公告)号: | CN101978276A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 斯潘塞·B·巴雷特;布兰登·J·麦柯里;肯尼思·V·阿尔蒙特 | 申请(专利权)人: | 电子科学工业有限公司 |
主分类号: | G01R19/145 | 分类号: | G01R19/145;G01R31/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 刘国伟 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种电子测试机包括多个测试模块,其每一者具有用于测试电子组件的多个触点对。一种用于所述电子测试机的电测试设置和校准的设备和过程包括板,所述板每轨道具有至少一个触点,所述至少一个触点可在测试位置之间移动以将测试装置以电方式选择性地插入于任一触点对之间。控制程序可经由所述板执行至少一个测试功能。 | ||
搜索关键词: | 测试 设置 校准 装置 | ||
【主权项】:
一种电子测试机,其具有定位于从中心轴线延伸的有角度间隔的径向线上的多个测试模块,每一测试模块具有用于测试电子组件的多个触点对,所述电子测试机的特征在于:用于电测试设置和校准的设备,其包含:板,其具有至少一个测试电极,所述至少一个测试电极可在测试位置之间移动以将测试装置以电方式选择性地插入于触点对之间,所述测试装置选自由伏特计、电流计、精密电流源、精密电压源、校准电阻器和校准电容器组成的群组;以及控制程序,其经配置以经由所述板执行至少一个测试功能,所述测试功能选自由对准校验、电压/电流源校验、绝缘电阻(IR)泄漏测量校验、零件存在触点检查校验、电容与耗散(CD)测量校验、IR/CD补偿和IR/CD校准组成的群组。
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