[发明专利]用于测试密码电路的方法、能够被测试的保密密码电路和该电路的接线方法有效
| 申请号： | 200980105835.0 | 申请日： | 2009-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN101971183A | 公开（公告）日： | 2011-02-09 |
| 发明（设计）人： | S·吉耶;J-L·当热 | 申请（专利权）人： | 电信学院集团-国立高等电信学校 |
| 主分类号： | G06F21/00 | 分类号： | G06F21/00;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;靳强 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测试密码电路的方法。本发明还涉及一种能够被测试的密码电路，该密码电路包括寄存器和逻辑门(211，212，213，214)。根据本发明，测试包括执行电路寄存器的差分功耗分析(DPA)。在被保密并包括与工作在互补逻辑的第二半电路(212，213)联合的第一半电路(211，214)的密码电路中，第一半电路的电源(Vdd1，23，25)与第二半电路的电源(Vdd2，24)分离，在每个半电路上并行执行差分功耗分析，在测试之后两个电源被组合成同一个电源。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 密码 电路 方法 能够 保密 接线 | ||
【主权项】：
一种用于测试密码电路的方法，所述密码电路结合有秘密并包括寄存器(1，2)以及通过一组节点相互连接的逻辑门(10，211，212，213，214)，其特征在于，所述方法执行差分功耗分析(DPA)，包括：采集阶段，根据电路输入处的测试信号向量在节点处采集功耗轨迹(11)的测量；分析阶段，基于功耗轨迹的测量来分析节点(12)的活动率，当节点的活动遵照活动预测模板时，认为节点正确工作。
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