[实用新型]一种自动光学检测系统无效
申请号: | 200920261027.0 | 申请日: | 2009-12-02 |
公开(公告)号: | CN201583503U | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 何洪辉;孟伟民;杨德红 | 申请(专利权)人: | 深南电路有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;B07C5/34 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型适用于PCB生产的检验检测技术领域,提供了一种自动光学检测系统,自动光学检测系统包括自动光学检测机、不合格品放置装置、第一感应器、第二感应器和扫描启动开关。在本实用新型中,如果不合格品没有被放入不合格品放置装置,第二感应器一直开启,而扫描启动开关就不会启动自动光学检测机对下一件板进行检测,这样就会提醒工作人员将不合格品放入不合格品放置装置,从而避免不合格品流入下步工序被加工,避免造成巨大的损失。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 光学 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种自动光学检测系统,所述系统包括自动光学检测机以及不合格品放置装置,其特征在于,所述系统还包括:固定在所述自动光学检测机的打点笔旁边,当打点笔下压时输出感应信号的第一感应器;位于所述不合格品放置装置上,与所述第一感应器连接的第二感应器,当所述第一感应器输出感应信号,所述第二感应器开启,当不合格品被放入不合格品放置装置,所述第二感应器关闭;以及位于所述自动光学检测机上,与所述第二感应器连接的扫描启动开关,当所述第二感应器关闭,扫描启动开关启动自动光学检测机对下一件板进行检测。
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