[实用新型]漏电检测保护电路无效
申请号: | 200920156740.9 | 申请日: | 2009-06-04 |
公开(公告)号: | CN201515205U | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 黄华道 | 申请(专利权)人: | 黄华道 |
主分类号: | H02H3/14 | 分类号: | H02H3/14;G01R31/02 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 赵郁军 |
地址: | 325603 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种漏电检测保护电路,它包括用于检测漏电流的感应线圈、用于检测低电阻故障的自检测线圈、控制芯片、内置有铁芯的脱扣线圈、可控硅、整流二极管,其特征在于:所述内置有铁芯的脱扣线圈的一端与穿过用于检测漏电流的感应线圈和用于检测低电阻故障的自检测线圈的电源火线相连,另一端通过所述可控硅与穿过用于检测漏电流的感应线圈和用于检测低电阻故障的自检测线圈的电源零线相连。 | ||
搜索关键词: | 漏电 检测 保护 电路 | ||
【主权项】:
一种漏电检测保护电路,它包括用于检测漏电流的感应线圈(L1)、用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)、控制芯片(IC1)、内置有铁芯的脱扣线圈(L3)、可控硅(V4)、整流电路,其特征在于:所述内置有铁芯的脱扣线圈(L3)的一端与穿过用于检测漏电流的感应线圈(L1)和用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)的电源火线(L)相连,另一端通过所述可控硅(V4)与穿过用于检测漏电流的感应线圈(L1)和用于检测低电阻故障的自检测线圈(L2)的电源零线(N)相连。
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