[实用新型]焊接式摄像头测试结构无效

专利信息
申请号: 200920136093.5 申请日: 2009-03-31
公开(公告)号: CN201403175Y 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 何煦 申请(专利权)人: 深圳市微高半导体科技有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/225;G01M11/00
代理公司: 深圳市科吉华烽知识产权事务所 代理人: 胡吉科;舒丽亚
地址: 518000广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种焊接式摄像头测试结构。所述焊接式摄像头测试结构,包括摄像头本体和与所述摄像头本体连接的第一金手指,所述焊接式摄像头测试结构还包括第二金手指,所述第二金手指与所述第一金手指连接。本实用新型技术方案通过对标准24引脚金手指进行测试,测试时只需有对应24引脚的标准连接器就可以,测试完成后,用剪刀沿裁切线剪掉测试端金手指,即可得到符合客户要求的成品,由于采用了普通标准型24引脚金手指测试连接器,在快速简单完成测试的同时,减少了产品误测的存在,且第一金手指不会有任何损伤,不会影响产品的性能。
搜索关键词: 焊接 摄像头 测试 结构
【主权项】:
1.一种焊接式摄像头测试结构,包括摄像头本体(101)和与所述摄像头本体(101)连接的第一金手指(102),其特征在于:所述焊接式摄像头测试结构还包括第二金手指(103),所述第二金手指(103)与所述第一金手指(102)连接。
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