[实用新型]LD-TO高低温性能简易测试装置有效

专利信息
申请号: 200920084638.2 申请日: 2009-03-31
公开(公告)号: CN201402306Y 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 杨新民;黄晶;杨惠 申请(专利权)人: 武汉华工正源光子技术有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;H01S5/022
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 代理人: 朱盛华
地址: 430223湖北省武汉市东湖高*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: LD-TO高低温性能简易测试装置,涉及一种LD-TO激光器全温测试的装置。电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB295接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051。本实用新型解决了只能将TO制成器件后才能测试的问题,采用单片机控制继电器多路方式测量,节约了成本和时间。
搜索关键词: ld to 低温 性能 简易 测试 装置
【主权项】:
1、LD-TO高低温性能简易测试装置,其特征在于电脑分接KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的GPIB接口,KEITHLEY2400数字源表、KEITHLEY6485电流表的前面板电流测试/输出接口接测试控制板的测试输入口,电脑与测试控制板通过RS232接口双向连接,测试控制板的输出接口DB25接烘箱中的测试夹的接口DB25,测试夹具的多路信号线接测试控制板中的继电器,测试控制板中的MAX3232芯片接单片机C8051,单片机C8051U1,通过其I/O经4-16译码器CD4515U2及电流驱动器ULN2803U3分接每个继电器(11)。
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