[实用新型]一种耐电压测试仪校准装置无效

专利信息
申请号: 200920073148.2 申请日: 2009-05-31
公开(公告)号: CN201489102U 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 程云斌;翁史昱;厉旻;韩乙旻;刘双喜 申请(专利权)人: 上海市质量监督检验技术研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/12
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 31128 代理人: 李浩东;陈颖洁
地址: 200020 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种耐电压测试仪校准装置,其特征在于输入端继电器模块与电子负载模块连接,电子负载模块与真有效值转换模块连接,输入端继电器模块还与电阻分压模块连接,电阻分压模块与真有效值转换模块连接,真有效值与AD转换模块连接,AD转换模块与ARM控制芯片连接,ARM控制芯片与电子负载模块连接,该耐电压测试仪校准装置还包括高压驻留时间检测模块,该高压驻留时间检测模块与输入端继电器模块连接,高压驻留时间检测模块与ARM控制芯片连接,ARM控制芯片与输入端继电器模块连接。本实用新型的优点在于能够实现耐电压测试仪的自动测量,提高工作效率,减少工作时间。本校准装置替代了传统校准工作中的多套设备和仪器,方便携带,有利于在线检测。
搜索关键词: 一种 电压 测试仪 校准 装置
【主权项】:
一种耐电压测试仪校准装置,包括输入端继电器模块,该输入端继电器模块的输入端与耐电压测试仪的输出端连接,其特征在于输入端继电器模块的输出端与电子负载模块的输入端连接,电子负载模块的输出端与真有效值转换模块的第一输入端连接,输入端继电器模块的输出端还与电阻分压模块的输入端连接,电阻分压模块的输出端与真有效值转换模块的第二输入端连接,真有效值的输出端与AD转换模块的输入端连接,AD转换模块的输出端与ARM控制芯片的第一输入端连接,ARM控制芯片的第一输出端与电子负载模块的反馈端连接,该耐电压测试仪校准装置还包括高压驻留时间检测模块,该高压驻留时间检测模块的输入端与输入端继电器模块的输出端连接,高压驻留时间检测模块的输出端与ARM控制芯片的第二输入端连接,ARM控制芯片的第二输出端与输入端继电器模块的控制端连接,ARM控制芯片的第三输出端与触摸屏连接。
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