[发明专利]电子装置测试系统无效
| 申请号： | 200910312544.0 | 申请日： | 2009-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN102110037A | 公开（公告）日： | 2011-06-29 |
| 发明（设计）人： | 刘清华 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，电子装置包括一嵌入式控制器，所述系统包括一数据模块及一应用模块，数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将型号信息传送到应用模块，应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。相对现有技术，应用模块将查询命令信息发送给嵌入式控制器并读写嵌入式控制器中的信息，用以完成对不同的电子装置的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 装置 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种电子装置测试系统，用于测试一电子装置，所述电子装置包括一嵌入式控制器，其特征在于：所述系统包括一数据模块及一应用模块，所述数据模块接收一与所述嵌入式控制器相对应的型号信息，并将所述型号信息传送到所述应用模块，所述应用模块包括一解析子模块解析所述型号信息并获得与所述型号信息对应的查询命令信息，所述应用模块将所述查询命令信息发送给所述嵌入式控制器并读写所述嵌入式控制器中的信息，所述嵌入式控制器向所述应用模块返回一测试结果，所述应用模块将所述测试结果与一标准结果进行比对生成一测试报告，用以完成对所述电子装置的测试。
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