[发明专利]用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路有效
申请号: | 200910213431.5 | 申请日: | 2009-11-06 |
公开(公告)号: | CN101714401A | 公开(公告)日: | 2010-05-26 |
发明(设计)人: | 柏娜;黄凯;陈鑫;杨军;时龙兴 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G11C7/12 | 分类号: | G11C7/12 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 奚幼坚 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路,设有五个PMOS管P1~P5及六个NMOS管N1~N6,PMOS管P1源端接电源,漏端与P4、P5的源端相连,PMOS管P2源端接电源,漏端与P4的栅端、NMOS管N1的漏端连接于位线BL,PMOS管P3源端接电源,漏端与P5的栅端、NMOS管N2的漏端连接于位线非NBL,NMOS管N3的栅端、N4的栅端与P1的栅端连接于敏感放大器使能信号pre,NMOS管N3的源端、N4的源端与地连接,NMOS管N1的源端及N2的源端与地连接,NMOS管N5的源端及N6的源端与地连接,PMOS管P2栅端、P4的漏端、与NMOS管N3的漏端、N1的栅端、N5的漏端、N6的栅端连接,PMOS管P3栅端、P5的漏端、与NMOS管N4的漏端、N2的栅端、N5的栅端、N6的漏端连接。 | ||
搜索关键词: | 用以 增强 存储 单元 阵列 容量 密度 阈值 敏感 放大 电路 | ||
【主权项】:
一种用以增强存储单元阵列容量和密度的亚阈值敏感放大电路,其特征在于:设有包括五个PMOS管P1~P5及六个NMOS管N1~N6,共11个晶体管,其中,PMOS管P1的源端接电源,PMOS管P1的漏端与PMOS管P4及PMOS管P5的源端共同连接;PMOS管P2的源端接电源,PMOS管P2的漏端与PMOS管P4的栅端以及NMOS管N1的漏端共同连接于一点且此点连接位线BL;PMOS管P3的源端接电源,PMOS管P3的漏端与PMOS管P5的栅端以及NMOS管N2的漏端共同连接于一点且此点连接位线非NBL;NMOS管N3的栅端与NMOS管N4的栅端以及PMOS管P1的栅端共同连接于一点且此点连接本放大电路的使能端pre;NMOS管N3的源端及NMOS管N4的源端均与地连接,NMOS管N1的源端及NMOS管N2的源端均与地连接,NMOS管N5的源端及NMOS管N6的源端均与地连接,PMOS管P2的栅端、PMOS管P4的漏端、NMOS管N3的漏端、NMOS管N1的栅端、NMOS管N5的漏端以及NMOS管N6的栅端共同连接;PMOS管P3的栅端、PMOS管P5的漏端、NMOS管N4的漏端、NMOS管N2的栅端、NMOS管N5的栅端以及NMOS管N6的漏端共同连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910213431.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:快速离合装置
- 下一篇:一种松软破碎矿体开采方法