[发明专利]光信息记录再现装置、光信息再现装置和光信息记录介质无效
申请号: | 200910205416.6 | 申请日: | 2009-10-23 |
公开(公告)号: | CN101826362A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 绪方岳 | 申请(专利权)人: | 日立民用电子株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B7/007 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供即使在具有多个层的光信息记录介质中存在偏心的情况下,也能够抑制记录速度的降低的光信息记录再现装置等。光信息记录再现装置,将与第一层的检测出缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域而记录信息。光信息记录再现将与第一层的登记有缺陷的位置相对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域而再现信息,优选缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。此外,光信息记录介质将与第一层的缺陷位置相对应的第二层中的规定区域登记为缺陷区域。而且,缺陷区域的半径方向的距离比层间的接合误差大。 | ||
搜索关键词: | 信息 记录 再现 装置 介质 | ||
【主权项】:
一种光信息记录再现装置,其对具有第一层和第二层的光信息记录介质进行信息的记录或者再现,该光信息记录再现装置的特征在于,包括:对所述光信息记录介质照射激光的拾取器;使所述光信息记录介质旋转的电机;根据从所述拾取器读出的信号进行缺陷检测的缺陷检测单元;和控制单元,其进行控制,使得在所述第一层中的信息记录时检测出所述缺陷的情况下,将与所述缺陷的检测位置对应的第二层中的规定区域作为缺陷区域,进行所述信息的记录。
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