[发明专利]电子微镜器件的测试方法及装置

摘要

本发明公开了一种电子微镜器件的测试方法及装置，测试装置包括：一核心逻辑功能验证电路；一高速数据存储器；一控制信号产生器；一测试信号发生器以及一测试信号检测器；测试方法是：核心逻辑功能验证电路接收到指令后，产生原始数据帧并存储，接着原始数据帧被核心逻辑功能验证电路计算转换为位数据帧，送出到被测器件的信号是位数据帧的串行化；被测器件接收到串行化的位数据帧后，其相应的单元会产生置位或者复位；测试信号检测器逐检测这些置位或者复位，并存储与于数据存储器中，得到位效果数据帧；以判断被测器件是否功能正常及故障点位置。本发明为电子微镜器件批量生产提供了一种有效的检测及验证工具，是目前商用IC测试设备所不具备的。

主权项

一种电子微镜器件的测试装置，其特征在于该装置包括：一核心逻辑功能验证电路，用于装置控制与计算核心；一高速数据存储器，连接到核心逻辑功能验证电路，用于存储原始数据幀、位数据幀和位效果数据幀；一控制信号产生器，连接到核心逻辑功能验证电路，根据外部输入触发信号产生信息交换信号；一测试信号发生器，连接到核心逻辑功能验证电路，并发送测试信号至被测电子微镜器件；其中测试信号中包含原始数据幀和位数据幀，而位数据幀由原始数据幀进行运算所得；以及一测试信号检测器，连接到核心逻辑功能验证电路，并接收被测电子微镜器件返回信号；所述核心逻辑功能验证电路、高速数据存储器、控制信号产生器、测试信号发生器及测试信号检测器装载于一片可编程器件(FPGA)之中。