[发明专利]提高元件测试准确率的测试装置、测试系统及测试方法无效
| 申请号： | 200910137221.2 | 申请日： | 2009-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN101871983A | 公开（公告）日： | 2010-10-27 |
| 发明（设计）人： | 王韦苹;柯宣仲 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关一种提高元件测试准确率的测试装置、测试系统及测试方法。该测试装置包含：一测试流程模块及一干扰接收模块，其中该测试流程模块根据元件测试结果与该干扰信号判断干扰信号是否影响元件测试结果。该测试系统，包含：一测试机台、一测试介面及一干扰接收模块，该干扰接收模块接收量测电磁干扰，其中该测试机台根据元件测试结果与该干扰信号判断干扰信号是否影响元件测试结果。该测试方法，包含：a.执行元件测试及干扰量测；b.判断元件是否通过测试；c.若元件未通过测试，则检查判断干扰量测值是否超过预设标准值；d.若干扰量测值超过预设标准值则重新执行步骤a至c；及e.若元件测试仍未通过测试且干扰量测值仍超过预设标准值则停止测试。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 元件 测试 准确率 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种提高元件测试准确率的测试装置，其特征在于包含：一测试流程模块在一测试机台内；及一干扰接收模块，该干扰接收模块接收量测电磁干扰，并将干扰信号输出至该测试机台，其中该测试流程模块根据元件测试结果与该干扰信号判断干扰信号是否影响元件测试结果。
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