[发明专利]试样分析仪有效
| 申请号： | 200910129177.0 | 申请日： | 2009-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN101545846A | 公开（公告）日： | 2009-09-30 |
| 发明（设计）人： | 池田穣 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N33/49;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁朝玉;刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种可以用共同的分析程序分析各种试样的试样分析仪。试样分析仪包括：量子化信息获取部件，用于获取表示所述试样中粒子特征的、量子化为一定位数的量子化信息；第一生成部件，从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分类为多类粒子的第一分类数据；第二生成部件，从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分类为多类粒子的、不同于第一分类数据的第二分类数据；存储设备，储存用于将所述试样中粒子分为多类粒子的分类条件；及分类部件，根据所述第一分类数据和所述第二分类数据其中之一及所述分类条件，将所述试样中的粒子分成多类的粒子。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 | ||
【主权项】：
1. 一种分析含有多种粒子的试样的试样分析仪，包括：量子化信息获取部件，用于获取表示所述试样中粒子特征的量子化为一定位数的量子化信息；第一生成部件，从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分为多类粒子的第一分类数据；第二生成部件，从所述量子化信息获取部件获取的所述量子化信息生成用于将所述试样中的粒子分为多类粒子的、不同于第一分类数据的第二分类数据；存储设备，储存用于将所述试样中粒子分为多类粒子的分类条件；及分类部件，根据所述第一分类数据和所述第二分类数据其中之一及所述分类条件，将所述试样中的粒子分成多类的粒子。
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