[发明专利]肖特基二极管测试方法无效
| 申请号： | 200910108301.5 | 申请日： | 2009-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN101587163A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 高燕辉;廖志强;邓咏梅 | 申请（专利权）人： | 深圳市晶导电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 何 平 |
| 地址： | 518101广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种肖特基二极管测试方法，包括：向肖特基二极管施加大于40mA且小于250mA的电流；向肖特基二极管施加反向电压。采用该肖特基二极管测试方法可以去除部分参数达不到使用要求的不良品，提升产品性能和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 肖特基 二极管 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种肖特基二极管测试方法，包括：向肖特基二极管施加大于40mA且小于250mA的电流；向肖特基二极管施加反向电压。
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