[发明专利]集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪无效
| 申请号： | 200910086404.6 | 申请日： | 2009-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN101582814A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 鲍胜青 | 申请（专利权）人： | 北京奥普维尔科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H04J3/16;H04L29/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100085北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪，包括：以太网接口，STM-N接口，以太网数据产生和检测模块，处理单元，所述EOS测试仪还包括虚级联组VCG查分延时与检测模块和链路调节机制LCAS仿真模块，其中VCG差分延时与检测模块，用于提取相同同步数字系列SDH帧中每个成员的复帧指示MFI差值，以得到所有成员的差分延时；LCAS仿真模块，用于控制虚级联组VCG链路的容量。EOS测试仪可以对每个VC-x通道进行延时控制，因此接收到的VCG成员都是不同的MFI值，因此可以测试VCG的差分延时；通过LCAS仿真模块可以无损地增加或减少VCG链路的容量，从而满足上层业务对带宽的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 lcas 仿真 vcg 延时 eos 测试仪 | ||
【主权项】：
1、集成LCAS仿真及VCG延时仿真的EOS测试仪，包括：以太网接口，与待测EOS以太网连接，接收发送以太网信号；STM-N接口，与待测EOS中STM-N接口相连，用于接收发送STM-N信号；以太网数据产生和检测模块，用于产生以太网测试信号，并对接收到的以太网信号进行检测；处理单元，包括SDH开销处理模块、VC映射与解映射模块及GFP封装与解封装模块；其特征在于，所述EOS测试仪还包括虚级联组VCG差分延时与检测模块和链路调节机制LCAS仿真模块，其中VCG差分延时与检测模块，用于提取相同同步数字系列SDH帧中每个成员的复帧指示MFI差值，以得到所有成员的差分延时；LCAS仿真模块，用于控制虚级联组VCG链路的容量。
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