[发明专利]基于光子筛的激光直写光刻系统无效
申请号: | 200910084295.4 | 申请日: | 2009-05-15 |
公开(公告)号: | CN101561637A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 蒋文波;胡松;赵立新;邢薇;杨勇;严伟;周绍林;陈旺富;徐锋;张博 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F7/004 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人: | 成金玉;卢 纪 |
地址: | 610209*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 基于光子筛的激光直写光刻系统,是由曝光光源(1)、透镜(2)、空间滤波装置(3)、均匀准直透镜组(4)、反射镜(5)、光子筛(6)、光刻胶(7)、基片(8)、精密工件台(9)组成。激光光源经透镜、空间滤波、均匀准直透镜组后成为均匀准直的平行光,照射到光子筛上,光子筛具有良好的聚焦能力,在涂有光刻胶的基片上聚焦。基片放置在X、Y精密工件台上,利用光子筛与基片之间的相对运动来实现所需的光刻图形。本发明具有很好的工艺兼容性,不需改动整个系统的结构,只需将聚焦元件改为光子筛器件,就可用传统的i线、g线激光直写光刻系统实现纳米量级的分辨力。若在此基础上再缩短曝光光源的波长,则可实现更高的分辨力,以极低的成本实现纳米量级图形的制作。 | ||
搜索关键词: | 基于 光子 激光 光刻 系统 | ||
【主权项】:
1、基于光子筛的激光直写光刻系统,其特征在于包括:曝光光源(1)、透镜(2)、空间滤波装置(3)、均匀准直透镜组(4)、反射镜(5)、光子筛(6)、光刻胶(7)、基片(8)和扫描工件台(9)组成;曝光光源(1)经透镜(2)聚焦后,经过空间滤波装置(3)、均匀准直透镜组(4)后成为均匀准直的平行光,然后由反射镜(5)反射到光子筛(6)上,光子筛良好的聚焦能力,在放置在扫描工件台(9)上并涂有光刻胶(7)的基片(8)上聚焦,利用光子筛与基片之间的相对运动来实现所需的光刻图形。
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