[发明专利]一种金标条的测量方法及检测系统有效

专利信息
申请号: 200910078816.5 申请日: 2009-03-04
公开(公告)号: CN101498721A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 黄立华;王静;张友宝;王林;屈建峰;陈颖;黄惠杰 申请(专利权)人: 中国检验检疫科学研究院;中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N33/558 分类号: G01N33/558;G01N21/49
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 代理人: 尹振启
地址: 100025北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种金标条测量方法,该方法首先绘制目标被检物的浓度与比值Tod/Cod之间对应关系的标准工作曲线,然后将测量、计算得到的待测金标条上的比值Tod/Cod与标准工作曲线进行对比,并由此得出金标条上所滴加的样品中的被检物的浓度值。本发明还公开了一种金标条检测系统。与在先技术相比,本发明金标条检测系统具有测量速度快,数据处理处理速度快,结构简单,工作可靠性高,易于装校,且成本较低,对操作人员要求低,等优点。
搜索关键词: 一种 金标条 测量方法 检测 系统
【主权项】:
1、一种金标条测量方法,包括如下步骤:(1)绘制目标被检物的浓度与比值Tod/Cod之间对应关系的标准工作曲线,具体为:①利用光源照射与待测金标条规格相同的标定试纸条,使光照强度在标定试纸条表面均匀分布,并且,在光源照射的同时,利用由PD阵列构成的接收装置采集标定试纸条上与待测金标条上的检测带、质控带、以及检测带和质控带之外的非功能区相对应的各部位表面产生的散射光信号S1、S2...Sn+2,1≤n≤3;②将目标被检物用相应缓冲液进行梯度稀释,并依次用金标条上样;利用同样的光源照射每一个上样后的金标条,照射的同时,利用接收装置采集各金标条上的检测带、质控带和检测带和质控带之外的非功能区表面产生的散射光信号St,Sc,Sa1,Sa2...San,St为检测带散射光信号,Sc为质控带散射光信号,Sa1为第一个非功能区的散射光信号,Sa2为第二个非功能区的散射光信号,San为第n个非功能区散射光信号;③针对每一个金标条,将采集的该金标条上检测带、质控带、非功能区的散射光信号St,Sc,Sa1,...San各自与在标定试纸条上相对应部位采集的散射光信号S1,S2...Sn+2进行比对,其中,S1对应St,S2对应Sc,S3对应Sa1,...Sn+2对应San,比对分别公式为:Yt=St/S1,Yc=Sc/S2,Ya1=Sa1/S3,Yan=San/Sn+2,得到比对后的结果Yt,Yc,Ya1,...Yan,计算各金标条Ya1,...Yan的平均值Ya,并由公式求出各金标条上检测带的散射光密度值Tod和质控带的散射光密度值Cod;④最后,根据各金标条所对应的被检物的浓度,以及各金标条检测带的散射光密度值Tod和质控带的散射光密度值Cod,绘制目标被检物浓度与比值Tod/Cod之间对应关系的标准工作曲线;(2)对滴加有样品的金标条上的被检物的浓度进行测量:首先,用与步骤(1)相同的光源照射待检金标条,并利用同样的接收装置采集该金标条上的检测带、质控带和检测带和质控带之外的非功能区表面产生的散射光信号St,Sc,Sa1,Sa2...San;然后,按与步骤(1).③相同的步骤计算出待检金标条的检测带的散射光密度值Tod和质控带的散射光密度值Cod,并计算比值Tod/Cod;最后,根据步骤(1).④绘制的标准工作曲线,得到金标条上所滴加的样品中的被检物的浓度值。
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