[发明专利]光电式双刀口支承静平衡测量仪及测量方法

摘要

光电式双刀口支承静平衡测量仪及测量方法，涉及一体化的静平衡测量技术领域，克服了现有技术的静平衡测量方法测量精度低、操作不便和难以实现自动化的缺陷，包括三个升降机构、三个支柱、底座、外刀承座、一对内刀承座、一对粗刀口、一对细刀口、支承、托架体、测量反射镜和光电准直光管，将被测转子放置在托架体的支承上，利用光电准直光管接收到的测量反射镜的发射光，对被测转子的质量不平衡量进行粗测；再对被测转子的质量不平衡量进行精测。本发明是一种非接触的光电测量技术，测量精度高、测量范围较大、使用安全可靠、操作方便、使用寿命长、智能化水平高，有利于提高测量自动化水平，适用于对转子不平衡量进行测量和校正的各领域。

主权项

光电式双刀口支承静平衡测量仪，其特征在于它包括第一升降机构(1‑1)、第二升降机构(1‑2)、第三升降机构(1‑3)、第一支柱(2‑1)、第二支柱(2‑2)、第三支柱(2‑3)、底座(3)、一对外刀承座(4)、一对内刀承座(5)、一对粗刀口(7)、一对细刀口(8)、支承(10)、托架体(12)、测量反射镜(13)和光电准直光管(14)，所述第一支柱(2‑1)、第二支柱(2‑2)和第三支柱(2‑3)分别设置在第一升降机构(1‑1)、第二升降机构(1‑2)和第三升降机构(1‑3)上，第一支柱(2‑1)和第三支柱(2‑3)左右对称支承在托架体(12)的下端，第二支柱(2‑2)支承在所述一对外刀承座(4)之间的中心的下端，所述一对内刀承座(5)左右对称的设置在底座(3)上，所述一对细刀口(8)和一对粗刀口(7)左右对称固定在托架体(12)的下表面，并且一对细刀口(8)正下方为一对内刀承座(5)，一对粗刀口(7)的正下方为一对外刀承座(4)，一对粗刀口(7)和一对细刀口(8)的刀刃线与支承(10)的中心线共线，所述测量反射镜(13)垂直于托架体(12)的上表面，并且测量反射镜(13)在支承(10)的中心线所在的竖直面内，所述光电准直光管(14)由光源(14‑1)、聚光镜(14‑2)、分划板(14‑3)、分光镜(14‑4)、物镜(14‑5)和线阵CCD(14‑6)组成，所述的光源(14‑1)、聚光镜(14‑2)、分划板(14‑3)、分光镜(14‑4)和物镜(14‑5)共轴且依次从左至右排列，分划板(14‑3)放置在光源经聚光镜(14‑2)的物点上，线阵CCD(14‑6)设置在分光镜(14‑4)的正下方物镜(14‑5)的焦平面上，使经分光镜(14‑4)反射的光聚焦于线阵CCD(14‑6)的表面，光电准直光管(14)出射光水平并能够射到测量反射镜(13)上，线阵CCD(14‑6)的信号输出端与计算机(16)的输入端口连接；所述光电式双刀口支承静平衡测量仪还包括标定架(9)、第一平衡块(6‑1)和第二平衡块(6‑2)，所述两个平衡块对称的设置在托架体(12)的左右两端，所述标定架(9)设置在托架体(12)的上表面。