[发明专利]通用电子式互感器校验方法无效
| 申请号： | 200910069830.9 | 申请日： | 2009-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN101604009A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 方琼;付艳华;徐科;顾建;季海峰;康宁 | 申请（专利权）人： | 天津市电力公司;江苏金智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300010*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种通用电子式互感器校验方法，包括使用标准升流/升压器为标准互感器及被检电子式互感器提供实验源的步骤，其创新之处为：包括通过校验仪将合并单元传输的采样值经重采样后与标准互感器输出的真值进行比较，得出被测电子式互感器通过合并单元后误差的步骤。本发明的校验方法不采用同步脉冲方式，与现场使用条件更加一致，可以更精确、真实地校验出接入数字化二次设备的采样值的误差；而且，本校验方法采用IEC61850-9-1或IEC61850-9-2标准协议，因此可以对任意厂家的电子式互感器及MU进行校验，具有较强的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 通用 电子 互感器 校验 方法 | ||
【主权项】：
1、一种通用电子式互感器校验方法，包括使用标准升流/升压器为标准互感器及被测电子式互感器提供实验源的步骤，其特征在于：还包括以下步骤：(1).将标准互感器的二次侧绕组输出端连接至校验仪的交流采样板接线端口，通过校验仪A/D采样得到标准互感器真值；(2).将与被测电子式互感器连接的合并单元输出端通过光纤接入至校验仪光纤网口；(3).校验仪接收由合并单元输出的采样值，并记录该采样值到达检验仪时间，且该采样值为符合IEC-61850-9-1或IEC-61850-9-2协议的数据报文；(4).校验仪依据被测电子式互感器时延参数对接收到的采样值进行重采样，得到重采样数据；(5).校验仪将重采样数据与步骤(1)所得到真值进行比较，得出被测电子式互感器通过合并单元后的误差；(6).校验仪记录并显示校验结果。
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