[发明专利]一种焊接接头成形组织特征的测量方法无效

专利信息
申请号: 200910061699.1 申请日: 2009-04-17
公开(公告)号: CN101629812A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 张朴;李旺火;刘文中;孔力 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 华中科技大学专利中心 代理人: 李 智
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种焊接接头成形组织特征的测量方法,对接头轮廓图像作二值化处理,采用深度优先搜索法消除二值化轮廓图像的横向和纵向毛刺,再将消除毛刺后的二值化轮廓图像离散化,采用两点距离偏差法搜索轮廓分段点以实现对接头轮廓的分段,分别将各段拟合成二次曲线,识别各二次曲线的特征点,对其作近似对称处理后用于计算接头成形特征。本发明准确分析了接头轮廓形状的变化规律,提高测量的精确性,有利于焊接质量分析。
搜索关键词: 一种 焊接 接头 成形 组织 特征 测量方法
【主权项】:
1、一种焊接接头成形组织特征的测量方法,按照以下步骤进行:(1)提取接头轮廓图像,对其作二值化处理得到二值化轮廓图像;(2)采用深度优先搜索法消除二值化轮廓图像的横向和纵向毛刺,搜索过程中记录轮廓点坐标,再将消除毛刺后的二值化轮廓图像离散化得到第一点集W;(3)寻取轮廓分段点:(3.1)令k=1,n=n0,flag=0,3≤n0≤5;(3.2)构造第二点集,n为第二点集U中的点个数,k为第二点集U中第一个轮廓点在第一点集W中的位置序号,i=k…k+n,xi、yi分别表示第一点集W中第i个轮廓点的横坐标与纵坐标;(3.3)判断第一点集W中第k+n+1轮廓点(xk+n+1,yk+n+1)是否是第一点集W的末点,若是,进入步骤(4);若不是,将第二点集冗余拟合为第一曲线y=a10x2+b10x+c10和第二曲线x=a20y2+b20y+c20;(3.4)若flag=0,以第一曲线y=a10x2+b10x+c10为基准寻找轮廓分段点,否则以第二曲线x=a20y2+b20y+c20为基准寻找轮廓分段点:以第一曲线y=a10x2+b10x+c10为基准寻找轮廓分段点与以第二曲线x=a20y2+b20y+c20为基准寻找轮廓分段点方法相同,以第一曲线y=a10x2+b10x+c10为基准寻找轮廓分段点按照如下方法进行:(3.4.1)分别计算第一点集W中轮廓点(xk+n+1,yk+n+1)和轮廓点(xk+n+2,yk+n+2)到第一曲线y=a10x2+b10x+c10的偏差距离d10,d20;(3.4.2)若d10>δ且d20>δ,偏差域值δ取值范围为5~15个逻辑单位,进入步骤(3.4.3),否则n=n+1,flag=0,转入步骤(3.2);(3.4.3)判断第二点集中相邻像素点位置是否有较大波动,若有,对其进行滤波平滑处理,进入步骤(3.4.4);若没有,进入步骤(3.4.7);(3.4.4)将平滑后的第二点集冗余拟合为第三曲线y=a11x2+b11x+c11和第四曲线x=a21y2+b21y+c21;(3.4.5)分别计算第一点集W中轮廓点(xk+n+1,yk+n+1)和轮廓点(xk+n+2,yk+n+2)到第三曲线y=a11x2+b11x+c11的偏差距离d10′,d20′;若d10′>δ,且d20′>δ,进入步骤(3.4.6);否则,n=n+1,flag=0,转入步骤(3.2);(3.4.6)分别计算第一点集W中轮廓点(xk+n+1,yk+n+1)和轮廓点(xk+n+2,yk+n+2)到第四曲线x=a21y2+b21y+c21的偏差距离为d10’”、d20’”;若d10’”>δ且d20’”>δ,确定轮廓点(xk+n,yk+n)为轮廓分段点,进入步骤(3.4.8),否则,n=n+1,flag=1,转入步骤(3.2);(3.4.7)分别计算第一点集W中轮廓点(xk+n+1,yk+n+1)和轮廓点(xk+n+2,yk+n+2)到第二曲线x=a20y2+b20y+c20的偏差距离为d10″、d20″;若d10″>δ且d20″>δ,确定轮廓点(xk+n,yk+n)为轮廓分段点,进入步骤(3.4.8),否则,n=n+1,flag=1,转入步骤(3.2);(3.4.8)k=k+n,n=n0,flag=0,转入步骤(3.2);(4)利用轮廓分段点将第一点集W的轮廓点分段,分别将各段拟合成二次曲线,并识别各二次曲线的特征点即为轮廓特征点;(5)对轮廓特征点作近似对称处理,根据其位置关系,计算接头成形特征。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910061699.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top