[发明专利]一种简便检测红外成像系统性能参数的装置无效
| 申请号： | 200910060891.9 | 申请日： | 2009-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN101504317A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 张晓晖;鲁刚;李振;胡清平;葛卫龙 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军海军工程大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 武汉开元专利代理有限责任公司 | 代理人： | 黄行军 |
| 地址： | 430033湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种简便检测红外成像系统性能参数的装置，包括红外透镜、镂空金属靶、温控片、温度传感器和壳体，其特征是所述壳体为绝热金属套筒，温控片位于绝热金属套筒一端，红外透镜位于绝热金属套筒另一端，镂空金属靶通过靶标支撑装置置于绝热金属套筒内红外透镜的焦面附近，在镂空金属靶上设有温度传感器，所述镂空金属靶的一个镂空部位位于温控片与红外透镜之间的光路上。该装置利用成像原理模拟远处目标，满足了红外热像仪的工作距离要求，绝热良好的壳体保证了温度稳定性，降低了检测时对环境的要求，有效消除了空气流通、热传导、热辐射等外界干扰，并且降低了热像仪检测时空间的大小。整个检测设备体积小、操作方便、检测快速。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 简便 检测 红外 成像 系统 性能参数 装置 | ||
【主权项】：
1、一种简便检测红外成像系统性能参数的装置，包括红外透镜、镂空金属靶、温控片、温度传感器和壳体，其特征是所述壳体为绝热金属套筒，温控片位于绝热金属套筒一端，红外透镜位于绝热金属套筒另一端，镂空金属靶通过靶标支撑装置置于绝热金属套筒内红外透镜的焦面附近，在镂空金属靶上设有温度传感器，所述镂空金属靶的一个镂空部位位于温控片与红外透镜之间的光路上。
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