[发明专利]一种磁感应强度的测量方法及装置无效
| 申请号： | 200910058524.5 | 申请日： | 2009-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN101509962A | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 武保剑;程立伟;邱昆 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 | 代理人： | 葛启函 |
| 地址： | 611731四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 一种磁感应强度的测量方法及装置，属于电子信息技术中的光纤传感技术领域，涉及磁感应强度的测量方法及装置。本发明基于FBG结构与磁光法拉第效应，通过测量已知光强的线偏振光入射到已知磁感应强度B的磁场作用下的FBG后的模式转换反射光(或透射光)的相对强度，得到FBG模式转换反射光(或透射光)的相对强度与外加磁场磁感应强度B的线性关系；然后通过测量已知光强的线偏振光入射到待测磁感应强度B的磁场作用下的FBG后的模式转换反射光(或透射光)的相对强度，并根据前述所得的线性关系，即可确定待测磁场的磁感应强度B的大小。本发明具有测量精度高、简单易用、成本低廉的特点，尤其适用于电磁铁磁极中磁场大小的测量和高压电流产生的磁场的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 感应 强度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种磁感应强度的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：采用两个或两个以上已知磁感应强度B的磁场作用于FBG，测量已知光强的线偏振光入射到FBG后的模式转换反射光或模式转换透射光的强度，并将模式转换反射光或模式转换透射光的强度换算成相对于入射线偏振光光强的相对强度，绘制出FBG模式转换反射光或模式转换透射光的相对强度与外加磁场磁感应强度B的线性关系。步骤2：将待测磁感应强度B的磁场作用于FBG，测量已知光强的线偏振光入射到FBG后的模式转换反射光或模式转换透射光的相对强度，根据步骤1所得的FBG模式转换反射光或透射光的相对强度与外加磁场磁感应强度的线性关系确定待测磁场的磁感应强度B的大小。
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