[发明专利]一种自动判断传感器的校准时间的方法

摘要

本发明公开了一种实现测试设备中传感器的校准时间确定的方法。本方法根据测试设备的校准要求设计，不仅可以监控传感器的精度变化情况，判断其稳定度，及时给出最佳的校准时间，而且实现了传感器的自校准，在一定范围内保证了测试精度，避免过度频繁的校准操作，提高设备的利用率，节省校准费用。所用的方法依据传感器的输出特性设计，根据传感器的特性曲线，利用标准物质，通过简单的自校准过程实现传感器的原位自校准和校准时间判断，算法简单，方便在测试设备的软件中实现。

主权项

一种确定测试设备中传感器的校准时间的方法，用于使用传感器进行测试的测试设备确定进行传感器校准的时间，其特征在于，所述方法包括如下步骤：A、在设备中设置传感器百分比允差范围和自校准周期；B、设备按照自校准周期进行自校准，软件自动记录各个采样点的误差；C、由人工通过设备操作界面给软件下达确定校准时间指令；D、首先软件将最近三次的自校准数据中各采样点误差与允差范围比较，如果一半以上的采样点连续3次都超出了允差范围，则判定传感器需要立即校准，校准判断结束，否则继续执行步骤E；E、软件计算最后3次自校准时各个采样点的误差变化率，按照平均变化率估算下次校准的误差，如果一半以上的采样点估算误差超出了允差范围，则判定传感器需要在下个自校准周期内进行校准，校准判断结束，否则继续执行步骤G；G、绘制各个采样点历次自校准的误差变化曲线，供人工判断误差变化趋势，决定校准时间，校准时间确定过程结束。