[发明专利]温度补偿晶体振荡器的自动测试系统有效
| 申请号： | 200910041181.1 | 申请日： | 2009-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN101609126A | 公开（公告）日： | 2009-12-23 |
| 发明（设计）人： | 刘朝胜 | 申请（专利权）人： | 东莞市大普通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 张艳美;郝传鑫 |
| 地址： | 523000广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种温度补偿晶体振荡器的自动测试系统，包括电源、温箱、数据传输模块、多个晶振选通模块、显示模块以及中央控制模块，晶振选通模块包括多个测试控制板以及多组解码器和多路开关，所述测试控制板设于所述温箱内，每个所述测试控制板上容置有多个待测试的晶体振荡器，中央控制模块包括计算机、频标、频率计、以及温度控制单元，频率计分别与频标、计算机电连接且设有与带测试的晶体振荡器连接的接口，计算机分别通过晶振选通模块和数据传输模块与待测试的晶体振荡器电连接，计算机通过温度控制单元与温箱电连接。本发明可对晶体振荡器进行规模化的测试以及补偿，效率极高。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 补偿 晶体振荡器 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种温度补偿晶体振荡器的自动测试系统，包括电源、温箱、数据传输模块以及中央控制模块，所述电源给所述温箱、所述数据传输模块以及所述中央控制模块供电，其特征在于：所述温度补偿晶体振荡器的自动测试系统还包括多个晶振选通模块，所述晶振选通模块包括多个测试控制板以及多组解码器和多路开关，所述测试控制板设于所述温箱内，每个所述测试控制板上容置有多个待测试的晶体振荡器，所述中央控制模块包括计算机、频标、频率计、以及温度控制单元，所述频率计分别与所述频标、所述计算机电连接且设有与所述待测试的晶体振荡器连接的接口，所述计算机分别通过所述晶振选通模块和所述数据传输模块与所述待测试的晶体振荡器电连接，所述计算机通过所述温度控制单元与所述温箱电连接。
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