[发明专利]一种半导体器件测试分选机无效
申请号: | 200910025718.5 | 申请日: | 2009-03-06 |
公开(公告)号: | CN101493495A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 贡瑞龙;陆军;梁天贵 | 申请(专利权)人: | 江都市东元机电设备有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01B11/00;G01R31/01;B07C5/00 |
代理公司: | 扬州市锦江专利事务所 | 代理人: | 江 平 |
地址: | 225200*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了半导体器件检测技术领域内的一种半导体器件测试分选机,包括安装在立轴上端的旋转工作台,旋转工作台外圆周上均布有若干可升降的吸嘴,旋转工作台周围沿顺时针或逆时针方向依次布置有与吸嘴位置相对应的分离台、第一旋转定位装置、检测头、图像摄像头、副转盘、第二旋转定位装置、下料机构和编带机构,分离台与上料机构连接,第一旋转定位装置、第二旋转定位装置各包括一个与被检测器件相适配的模腔,模腔位于相应工位的吸嘴下方;副转盘周边均布有若干可容纳被检测器件的凹腔,副转盘侧面设有与凹腔对应的打标激光头。该装置由计算机控制多个检测装置协同工作,本装置上可实现检测、打标、分选、编带;其结构紧凑,效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 测试 分选 | ||
【主权项】:
1、一种半导体器件测试分选机,其特征在于包括水平设置的旋转工作台,旋转工作台安装在立轴上端,旋转工作台外圆周上均布有若干可升降的吸嘴,旋转工作台周围沿顺时针或逆时针方向依次布置有与吸嘴位置相对应的分离台、第一旋转定位装置、检测头、图像摄像头、副转盘、第二旋转定位装置、下料机构和编带机构,所述分离台与上料机构连接,所述第一旋转定位装置、第二旋转定位装置各包括一个与被检测器件相适配的模腔,模腔恰好位于相应工位的吸嘴下方;副转盘周边均布有若干可容纳被检测器件的凹腔,副转盘侧面设有与凹腔对应的打标激光头。
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