[发明专利]可控硅测试装置有效
| 申请号： | 200910012180.4 | 申请日： | 2009-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN101581755A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 滕波 | 申请（专利权）人： | 大连美恒时代科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/27 |
| 代理公司： | 大连东方专利代理有限责任公司 | 代理人： | 李洪福 |
| 地址： | 116023辽宁省大*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可控硅测试装置，包括接触器和变压器；其特征在于还包括：触发单元，电流测量单元，外部交流电源经过所述接触器和变压器后连接到待测可控硅组上，再经过导线返回到变压器中性点上构成回路，通过所述触发单元控制待测可控硅组中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元测量并记录流经可控硅的电流大小。该测试装置同现有技术相比其优点是显而易见的，它不仅可实现对可控硅或已经安装好的可控硅进行测试，特别是3组6只可控硅的测试，测试方式简单可靠，十分准确。而且该装置体积小，重量轻，数字量控制，特别适合在可控硅测量领域广泛推广。 | ||
| 搜索关键词： | 可控硅 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种可控硅测试装置，包括：接触器，作为整个设备的电源开关；变压器，将外部交流电源转变为待测可控硅组的额定电压；其特征在于还包括：触发单元，用于控制可控硅导通角大小；电流测量单元，用于测量流经可控硅电流的大小；外部交流电源经过所述接触器和变压器后连接到待测可控硅组上，再经过导线返回到变压器中性点上构成回路，通过所述触发单元控制待测可控硅组中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元测量并记录流经可控硅的电流大小。
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