[发明专利]一种对MIDlet生命周期事件记录回放的测试方法无效

专利信息
申请号: 200910010824.6 申请日: 2009-03-21
公开(公告)号: CN101510170A 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 杜振军;陈荣;刘亚清;屠丹;杨红;刘洪波 申请(专利权)人: 大连海事大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 大连八方知识产权代理有限公司 代理人: 卫茂才
地址: 116026辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种对MIDlet生命周期事件记录回放的测试方法。它通过代码插装的方式将MIDlet类中原生命周期事件方法予以包裹,在其中注入记录代码后运行MIDlet,实现生命周期事件的记录;完成记录后向MIDlet类中注入回放线程,再次运行MIDlet,依据记录文件内容依次自动触发并跟踪事件序列,完成对记录事件的回放;将回放结果与记录的事件序列相比较,完成测试结果的分析。本发明首次实现了一种对MIDlet生命周期事件进行记录回放的自动测试方法;可以测试MIDlet状态相关的变化序列在多次运行中的稳定性以及在不同类型设备间移植时MIDlet的运行一致性,可方便地与用户事件一并记录与回放。
搜索关键词: 一种 midlet 生命周期 事件 记录 回放 测试 方法
【主权项】:
1、一种对MIDlet的生命周期事件进行记录回放的测试方法,其特征是,包括以下步骤:A、将MIDlet类插装记录代码后启动运行,记录MIDlet的运行过程中所有发生的生命周期事件;B、记录阶段完成后,再将MIDlet类插装回放代码后启动运行,依次回放记录阶段的生命周期事件;C、回放完成后,在主机端将回放结果与记录阶段信息进行比较分析处理,生成事件测试报告。
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