[发明专利]嵌入式系统中的自动再现测试装置及自动再现测试方法无效
| 申请号： | 200880120708.3 | 申请日： | 2008-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101896888A | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 辻堂仁规;内藤教博 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/34 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖;胡烨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种连接有外部设备(10)的嵌入式系统中的自动再现测试装置，包括：历史存贮单元(信息存贮部20)，该历史存贮单元将嵌入式系统的操作事件、以及包括外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元(再现测试装置2)，该再现测试单元基于来自外部的再现指示，读出历史存贮单元中存贮的内容，按照读出的内容再现嵌入式系统的内部状态，并重复执行规定次数的嵌入式系统的再现测试。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 系统 中的 自动 再现 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种嵌入式系统中的自动再现测试装置，是连接有外部设备的嵌入式系统中的自动再现测试装置，其特征在于，包括：历史存贮单元，该历史存贮单元将所述嵌入式系统的操作事件、以及包括所述外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元，该再现测试单元基于来自外部的再现指示，读出所述历史存贮单元中存贮的内容，按照所述读出的内容再现所述嵌入式系统的系统状态，并重复执行规定次数的所述嵌入式系统的再现测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社，未经三菱电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880120708.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种液相催化处理水体中六价铬的方法
- 下一篇：用于运输负载的车辆
