[发明专利]用于根据渡越时间测量方法和/或电容测量方法确定和/或监控至少一种在容器中的介质的至少一个物位的装置有效
| 申请号： | 200880120523.2 | 申请日： | 2008-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101896798A | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 拉尔夫·安布鲁斯特;罗兰·格罗青格;伯恩哈德·米哈尔斯基 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/00 | 分类号： | G01F23/00;G01F23/26;G01F23/284 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 邹璐;樊卫民 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于根据渡越时间测量方法和/或电容测量方法利用至少一个测量探头(5)确定和/或监控至少一种介质(2，3)在容器(4)中的至少一个物位(F，F0，Fu)的装置；该装置(1)包括电容测量电路(8)、时域反射计测量电路(7)和控制/分析单元(6)。本发明提供分频器，其将低频测量信号(SNF)和高频电磁测量信号(SHF)发送至测量探头(5)，并且使得进入时域反射计测量电路(7)第一信号路径(17)的高频电磁测量信号(SHF)与进入电容测量电路(8)第二信号路径(18)的低频测量信号(SNp)在信号技术上分离。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 根据 时间 测量方法 电容 确定 监控 至少 一种 容器 中的 介质 一个 装置 | ||
【主权项】：
用于利用至少一个测量探头(5)根据渡越时间测量方法和/或电容测量方法确定和/或监控至少一种介质(2，3)在容器(4)中的至少一个物位(F，FO，FU)的装置，该装置(1)包括：‑电容测量电路(8)，其在测量探头(5)上产生低频测量信号(MNF)并且由此确定电容或电抗；‑时域反射计测量电路(7)，其产生高频电磁测量信号(MHF)，经由测量探头(5)发出该高频电磁测量信号作为发送信号(S，ST)，接收反射信号(R，RT)作为回波，并且从发出发送信号(ST)与接收反射信号(SR)之间的时间差确定渡越时间或者依赖于渡越时间的回波曲线；和‑控制/分析单元(6)，其驱动两个测量电路(7，8)并且从确定的电容、确定的电抗、确定的渡越时间或者确定的依赖于渡越时间的回波曲线而确定物位(F，FO，FU)，其特征在于，提供分频器，其将所述低频测量信号(SNF)和所述高频电磁测量信号(SHF)引导至所述测量探头(5)，并且实现进入所述时域反射计测量电路(7)的第一信号路径(17)中的所述高频电磁测量信号(SHF)与进入所述电容测量电路(8)的第二信号路径(18)中的所述低频测量信号(SNF)之间在信号技术上的分离。
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