[发明专利]用于对地层进行电磁测井的方法和设备有效
| 申请号： | 200880119215.8 | 申请日： | 2008-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN101889217A | 公开（公告）日： | 2010-11-17 |
| 发明（设计）人： | 雷扎·泰赫里安;塔瑞克·M·哈巴什 | 申请（专利权）人： | 普拉德研究及开发股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V3/30 | 分类号： | G01V3/30;H01Q1/04;H01Q21/24;H01Q21/26 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张成新 |
| 地址： | 英属维尔京*** | 国省代码： | 维尔京群岛;VG |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于有测量的天线响应的组合合成期望的天线响应的方法和设备，以及公开了尤其适于提供所述测量值的天线阵列。这些天线阵列可以包括交叉偶极子天线和双交叉偶极子天线。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 地层 进行 电磁 测井 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种使用期望的天线阵列的合成响应确定地层特性的方法，包括以下步骤：提供第一天线阵列和第二天线阵列；从第一天线阵列发射器发射第一信号；在两个或更多个第一天线阵列接收器处接收所述第一信号；组合所述第一天线阵列接收器的接收信号以产生期望点处的第一天线阵列直接响应和在所述期望点处的第一天线阵列导数响应；从第二天线阵列发射器发射第二信号；在两个或更多个第二天线阵列接收器处接收所述第二信号；组合所述第二天线阵列接收器的接收信号以产生在所述期望点处的第二天线阵列直接响应和在所述期望点处的第二天线阵列导数响应；使用所述第一天线阵列和所述第二天线阵列的直接响应和导数响应合成所述期望点处期望的天线阵列响应；以及使用合成的所述响应确定所述地层特性。
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