[发明专利]用于基准线投影仪器的测距方法和该基准线投影仪器有效
| 申请号： | 200880113193.4 | 申请日： | 2008-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101836077A | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | 于尔格·欣德林;安东·克尔;沃尔夫冈·雷布汉;罗兰·格雷夫 | 申请（专利权）人： | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01S17/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;张旭东 |
| 地址： | 瑞士海*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 本发明涉及基准线投影仪器(1)，该基准线投影仪器(1)包括沿规定的基准路径(RP)引导基准光束(RS)的光电测距单元，其中基准路径的至少一部分可在经过人眼和/或检测器时被检测为基准线。在经过基准路径(RP)时，对该基准路径(RP)上的至少一个点(Pi)尤其是对多个点(Pi)进行测距，做法是发射与基准光束(RS)平行或同轴的测量光束，或者利用基准光束(RS)作为测量光束。在接收到反射测量光束的一部分后，根据该部分得到信号，根据该信号确定到至少一个点(Pi)的距离，其中，沿该基准路径(RP)的引导至少重复一次，当每次经过基准路径(RP)时，对每个点(Pi)得到距离(Di)或距离相关参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 基准线 投影 仪器 测距 方法 | ||
【主权项】：
一种用于具有光电测距仪的基准线投影仪器(1)的测距方法，该方法包括以下步骤：发出并沿规定的基准路径(RP)尤其是可按规定可变方式指定的基准路径(RP)引导基准光束(RS)，其中该基准路径(RP)的至少一部分在经过人眼和/或检测器时能被检测为基准线，通过以下操作测量至该基准路径(RP)上的至少一个点(Pi)尤其是多个点(Pi)的距离：发射与基准光束(RS)平行或同轴的测量光束，或者使用基准光束(RS)作为测量光束，接收反射的测量光束部分并且根据所述部分得到至少一个信号，以及根据该至少一个信号确定至该至少一个点(Pi)的距离(Di)，特别地按照至少1kHz的测量速率记录该信号，其特征是，至少重复一次尤其是重复多次沿基准路径(RP)的引导，并且在每次经过基准路径(RP)时，针对该至少一个点(Pi)，总是求出距离(Di)或者距离相关参数(Dij)，尤其是传播时间或相位。
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