[发明专利]用于观察样本表面的设备有效
| 申请号： | 200880108521.1 | 申请日： | 2008-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN101809431A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | S·瓦德曼 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55;A61B5/103;G01B11/30 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周红力;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于观察半透明材料的样本(1)的表面(2)的外观的设备，设备包括：用于从预定方向至少照射样本(1)的表面的感兴趣区域(16)的光源(11)和用于观察对感兴趣区域(16)照射的响应的装置(14)，其中，被照射的区域(5)包括：感兴趣区域(16)和感兴趣区域(16)周围的区域。由此，所发射的散射光(32)对样本(1)的外观的观察的准确性的影响被最小化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 观察 样本 表面 设备 | ||
【主权项】：
一种用于观察半透明材料样本(1)的表面(2)的外观的设备，该设备包括：用于从预定方向至少照射样本(1)的表面(2)的感兴趣区域(16)的光源(11)和用于观察对照射感兴趣区域(16)的响应的装置(14)，其中，被照射区域(5)包括：感兴趣区域(16)和感兴趣区域(16)周围的区域。
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