[发明专利]MALDI质谱分析用的试样架及质谱分析方法有效
| 申请号： | 200880022036.2 | 申请日： | 2008-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN101688847A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 米泽彻;佐藤王高 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人东京大学;同和电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62;H01J49/16 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李 帆 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种MALDI质谱分析用的试样架，所述试样架具有CuO二次粒子作为激光吸收基质，所述二次粒子由平均粒径100nm以下的CuO一次粒子集合而成，并具有由构成最表层的一次粒子的形状所引起的凹凸表面。可使用的上述CuO二次粒子的来源为，通过将在对碳酸氢铵水溶液和硝酸铜水溶液进行混合的工序中所生成的碱式碳酸铜在200～300℃下进行大气烧结而合成的CuO粉末，该CuO二次粒子的平均粒径为0.3～10μm。 | ||
| 搜索关键词： | maldi 谱分析 试样 方法 | ||
【主权项】：
1、一种MALDI质谱分析用的试样架，所述试样架具有CuO二次粒子作为激光吸收基质，所述二次粒子由平均粒径100nm以下的CuO一次粒子集合而成，并具有由构成最表层的一次粒子的形状所引起的凹凸表面。
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