[发明专利]使用调制误差比进行测试的装置和方法无效
| 申请号： | 200880010118.5 | 申请日： | 2008-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101647226A | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | R·克里希纳穆斯;T·孙;A·曼特里瓦迪 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/20 | 分类号： | H04L1/20 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈 炜;袁 逸 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了通过利用调制误差比(MER)来对多载波系统中的中继器/发射机进行测试或定性的装置和方法。具体地，所公开的方法包括确定中继器/发射机的输出的估计有效调制误差比。将此估计有效调制误差比与预定阈值进行比较，并且当估计有效调制误差比大于该预定阈值时，中继器/发射机被定性为合格。对在总数个副载波上可能具有非平坦调制误差比的中继器/发射机使用估计调制误差比便提供了高效率的中继器/发射机测试及定性方法。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 调制 误差 进行 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于对多载波系统中的中继器/发射机进行定性的方法，包括：确定所述中继器/发射机的输出的估计有效调制误差比；将所述估计有效调制误差比与预定阈值进行比较；以及当所述估计有效调制误差比大于所述预定阈值时将所述中继器/发射机定性为合格。
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