[发明专利]低损耗铁氧体及使用其的电子零件有效
| 申请号： | 200880004069.4 | 申请日： | 2008-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN101668719A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | 田中智;橘武司 | 申请（专利权）人： | 日立金属株式会社 |
| 主分类号： | C04B35/30 | 分类号： | C04B35/30;H01F1/34;H01F27/255 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 朱 丹 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种低损耗铁氧体，特征是作为主成分含有47.1～49.3摩尔％的Fe2O3、20～26摩尔％的ZnO、6～14摩尔％的CuO、余量为NiO，而且，对于上述主成分100质量％，以SnO2换算，含有0.1～2质量％的Sn，和以Mn3O4换算，含有0.05～2质量％的Mn，平均晶粒直径为0.5～3μm。 | ||
| 搜索关键词： | 损耗 铁氧体 使用 电子零件 | ||
【主权项】：
1.一种低损耗铁氧体，其特征是，作为主成分，含有47.1～49.3摩尔％的Fe2O3、20～26摩尔％的ZnO、6～14摩尔％的CuO及余量为NiO，而且，相对于上述主成分100质量％，含有以SnO2换算为0.1～2质量％的Sn、和以Mn3O4换算为0.05～2质量％的Mn，平均晶粒直径为0.5～3μm。
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