[实用新型]表面粗糙度检测装置有效
| 申请号： | 200820122779.4 | 申请日： | 2008-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN201322610Y | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | 李粉兰;段海峰;郝建国;许祖茂;李俊国 | 申请（专利权）人： | 北京时代之峰科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 田 野 |
| 地址： | 100085北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，被测表面与检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。本实用新型的表面粗糙度检测装置，既避免了反射光对测量结果的影响，又减少了吸收装置而降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 表面 粗糙 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，其特征在于：被测表面与检测检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。
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